Knihy od autora Patrick Echlin

Zobrazeno 1 – 8 z 8 výsledků

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
2. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
3. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   6578 Kč

   Koupit
4. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2009

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4798 Kč

   Koupit
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
6. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 8-10 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   4005 Kč

   Koupit
7. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer Science+Business Media, 1992

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   6578 Kč

   Koupit
8. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4765 Kč

   Koupit

Máte na výběr ze mnoha způsobů platby za váš nákup. Zjistěte více